Rasterelektronenmikroskop (REM)

Das Zentrum für Physik der Hochschule Offenburg betreibt ein

Rasterelektronen-Mikroskop JSM-6610 LV der Firma Jeol.

Der optionale Niedervakuumbetrieb bis 200 Pa erlaubt die Untersuchung feuchter und klebriger Proben. Ausgestattet ist das Gerät mit Detektoren für Sekundär- und für Rückstreuelektronen zur Untersuchung von Oberflächen.
Ein energiedispersiver Röntgendetektor zur Elementanalyse erlaubt zusätzlich die Bestimmung der Zusammensetzung der Probe.

Das Elektronenmikroskop wird vielfältig in der Lehre und der Forschung eingesetzt
für Projektarbeiten, zerstörungsfreie Werkstoffprüfung und die Untersuchung biologischer Proben. Auch die heimische Industrie wird unterstützt. Unternehmen können damit gewonnene Erkenntnisse zur Sicherung der Qualität in unterschiedlichsten Bereichen nutzen.